Identificarea IC-urilor

Principala modificare adusa de Memtest86+ LAB501 Edition consta in introducerea unei coloane suplimentare, denumita IC, in tabelul erorilor individuale. Scopul este identificarea rapida a cipului care genereaza erori, fara a mai fi necesara interpretarea manuala a informatiilor afisate de program. Pentru fiecare eroare, Memtest86+ raporteaza adresa la care aceasta a fost detectata (Failing Address), valoarea asteptata (Expected), valoarea citita (Found) si masca bitilor diferiti (Err Bits). Aceasta din urma este obtinuta printr-o operatie XOR intre Expected si Found, fiecare bit setat indicand o diferenta intre cele doua valori.

Creditul pentru metoda de identificare a IC-urilor prin corelarea Err Bits cu Failing Address ii apartine lui bschicht86, membru al comunitatii HardwareLuxx. Ii multumim pentru documentarea si popularizarea acestei metode, contributia noastra constand in integrarea algoritmului direct in interfata Memtest86+, alaturi de celelalte imbunatatiri prezentate pe pagina anterioara. In versiunea pe 32 de biti, campul Err Bits contine opt cifre hexadecimale, grupate cate doua. Valoarea 00 indica absenta erorilor in grupul respectiv, in timp ce 0X, X0 sau XX indica diferente pe una sau mai multe linii de date, X reprezentand o cifra hexadecimala nenula.

Coreland pozitia grupului de biti cu ultimul digit hexadecimal al adresei la care a fost detectata eroarea, obtinem urmatoarea corespondenta pentru modulele single-rank:

In exemplul din imaginea de mai jos, la DDR-580 cu timing-uri 2-2-2-5, observam erori generate de doua IC-uri. Pentru Err Bits = 00180000 si o adresa terminata in 8, programul identifica A3, care a generat erori inca din primul Pass, la Test 8. Cel de-al doilea IC, A1, este identificat pe baza valorii Err Bits = 00000080 si a unei adrese terminate in 0, erorile aparand abia in cel de-al doilea Pass, la Test 6. Atunci cand masca Err Bits indica erori in mai multe grupuri de date simultan, programul afiseaza MULT, deoarece eroarea nu mai poate fi atribuita unui singur IC. In aceasta situatie recomandam reluarea testelor la o frecventa mai mica, pentru a putea identifica separat componentele care genereaza erori.

Rezultatul este afisat direct alaturi de celelalte informatii despre eroare, ceea ce simplifica semnificativ procesul de binning. Putem observa imediat daca instabilitatea apare in mod repetat pe acelasi IC, la o anumita frecventa sau cu un anumit set de timing-uri, fara a mai interpreta manual fiecare eroare. Identificarea corecta depinde insa si de organizarea modulului, precum si de configuratia platformei si a testelor utilizate, aspecte pe care le vom detalia pe pagina urmatoare.