Rezultate

Pentru primul scenariu de test am pastrat memoria la DDR5-6000, conform profilului EXPO, si am urmarit reducerea latentelor, mentinand tensiunile VDD si VDDQ la 1.4V. Am pastrat latenta CAS la CL30 si am ajustat manual ceilalti parametri, pentru a vedea ce putem obtine fara cresterea tensiunii de alimentare.

In aceste conditii, am obtinut un set de latente de 30-35-35-50, fata de valorile 30-40-40-76 prevazute in profilul EXPO. Ca de obicei, pentru verificarea stabilitatii am utilizat Prime95 Large FFT, incarcarea totala a memoriei ajungand la aproximativ 99%, cu 31.3GB ocupati. Setarile obtinute si testul de stabilitate in rulare pot fi urmarite in captura de mai jos:

• DDR5-6000 30-35-35-50 1.4v

Pentru cel de-al doilea scenariu am urmarit cresterea frecventei de functionare, ajungand la DDR5-7400, cu un set de latente de 34-45-45-50. Vorbim despre un plus de 1400MT/s fata de profilul EXPO, echivalentul unei cresteri de aproximativ 23%, un rezultat interesant pentru un kit bazat pe IC-uri Hynix M-die de 16Gbit insa semnificativ mai putin decat ceea ce putem obtine cu Hynix A-die 16Gbit.

Pentru aceasta configuratie am crescut tensiunile VDD si VDDQ la 1.45V, cu doar 50mV peste valoarea nominala de 1.4V. Totodata, tRFC a fost configurat la 500 de cicluri, echivalentul a aproximativ 135ns la aceasta frecventa, fata de 160ns in scenariul DDR5-6000.

• DDR5-7400 34-45-45-50 1.45v